可同時(shí)實(shí)現(xiàn)顆粒物視覺和化學(xué)分析的二合一系統(tǒng)

 

　　在清潔度分析過程中，必須盡可能快地找出污染源。徠卡顯微系統(tǒng)推出的清潔度專家解決方案現(xiàn)可為您提供更深入的顆粒物分析。它不僅能對顆粒物執(zhí)行自動(dòng)檢測、計(jì)數(shù)、分析和分類 (按照其導(dǎo)致?lián)p害的危險(xiǎn)度)，還能同時(shí)確定顆粒物的成分。如今，您在搜尋污染源時(shí)可節(jié)省 90% 的時(shí)間。此外，您可在同一工作場所完成全部分析。
 

　　這樣有什么意義呢？
 

　　您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握所有相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴(yán)格的 VDA 19 和 ISO 標(biāo)準(zhǔn)。在定位顆粒物來源上節(jié)省時(shí)間也能促成更具經(jīng)濟(jì)效益的清潔度分析。
 

　　那如何實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)呢？
 

　　將顯微技術(shù)與激光光譜技術(shù)相結(jié)合。運(yùn)行徠卡清潔度專家軟件的 DM6 M 顯微鏡中集成了 LIBS (激光誘導(dǎo)擊穿光譜) 系統(tǒng)。這種二合一解決方案允許您使用同一臺儀器執(zhí)行視覺和化學(xué)分析。
 

　　由此，您可將清潔度分析流程縮減為一步，并避免使用電子顯微鏡 (SEM/EDS) 等手段執(zhí)行代價(jià)高昂的下游分析。
 

　　全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：
 

　　利用快捷的化學(xué)分析更快地找出污染源
 

　　在內(nèi)部完成所有步驟，省時(shí)省錢
 

　　盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進(jìn)行深入分析
 

　　- 無需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設(shè)備
 

　　- 無需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)
 

　　更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請?jiān)诰W(wǎng)站上進(jìn)一步了解我們?nèi)碌那鍧嵍葘＜壹?LIBS 二合一解決方案。或者也可聯(lián)系當(dāng)?shù)氐膹瓶@微系統(tǒng)有限公司銷售代表了解詳情。